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白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀不需要復(fù)雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測(cè)分析,提供3D表面形狀和表面紋理的分析, 更可提供鏡面表面的納米級(jí)粗糙度和臺(tái)階高度分析。 納米深度3D形狀顯微檢測(cè)儀具有測(cè)量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描,得到 測(cè)量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù),檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡
PZ-X1便攜式金相顯微鏡是一種輕型小型金相顯微鏡適用于現(xiàn)場(chǎng)、野外的大型鋼材或半成品、成品工件進(jìn)行金相檢驗(yàn),分析處理。儀器可對(duì)鋼鐵原材料的組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行鑒定分析,也可以對(duì)鋼材材料進(jìn)行熱處理后的各種組織結(jié)構(gòu)變化的鑒定分析。
顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器,主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。分光學(xué)和電子:
M-100DIC型微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性價(jià)比非常高的檢測(cè)用光學(xué)儀器。導(dǎo)電粒子金相顯微鏡采用無限遠(yuǎn)光學(xué)成像系統(tǒng),內(nèi)置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭,體現(xiàn)了目視觀察的真實(shí)還原,以及數(shù)碼攝影與顯微成像的技術(shù)融合,觀察到的干涉圖像具有更強(qiáng)的立體感,適合于非透明材質(zhì)的表面形態(tài)觀察,如液晶屏導(dǎo)電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領(lǐng)域內(nèi)品質(zhì)檢測(cè)、結(jié)構(gòu)研究的理想儀器。
微分干涉金相顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念,可以方便升級(jí)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏光觀察, DIC觀察等功能,導(dǎo)柱升降裝置,可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動(dòng),機(jī)構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件,集成電路,包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。
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